在皮革生产与品质管控环节，漏胶、划痕等细微瑕疵会直接影响产品等级与市场价值。传统人工目视检测易受主观判断、疲劳作业影响，存在效率偏低、标准不统一、漏检情况较多等问题；常规光学检测设备多以空间形态信息为主，对材质微观变化带来的光学差异识别能力有限，难以满足精细化质检需求。
高光谱成像技术可同步获取目标的空间图像与连续光谱信息，每个像素点对应完整的高分辨率光谱曲线。皮革瑕疵区域与正常区域在成分、表面结构上存在差异，二者的反射光谱与色度参数会在特定波段形成可量化区别，为客观、稳定的瑕疵识别提供数据支撑。
本次采用彩谱科技FS-13高光谱相机开展皮革瑕疵检测验证，设备与参数设置贴合皮革样品特性：
l 光谱范围：400–1000nm
l 光谱分辨率：2.5nm
l 工作模式：外置推扫扫描
l 关键参数：曝光时间200μs、电机运动速度30 mm/s
l 样品：含漏胶瑕疵的皮革试样
l 检测目标：提取并区分瑕疵区与正常区的光谱、色度特征，完成瑕疵定位与可视化呈现
1. 数据采集以推扫模式对皮革表面全域扫描，同步采集每个像素点的全波段光谱数据与L、a、b、X、Y、Z 等色度参数，实时生成反射率曲线，形成“空间+光谱”一体化数据集。
2. 数据预处理与分析对原始数据进行校准与降噪处理，重点对比瑕疵区域与正常区域的反射率曲线形态，量化色度参数差值，提取可用于区分缺陷的光学特征，建立稳定识别依据。
1. 光谱特征差异清晰在400–1000 nm波段内，漏胶区域与正常区域的反射率曲线在峰值、斜率及特征波长位置呈现可量化波形差异，为缺陷判定提供客观依据。
2. 色度参数区分度良好以D65/10°标准观测条件为例，漏胶区域与正常区域的 L、a、b等值差异明显，可通过数值阈值实现缺陷快速判别。
3. 瑕疵定位精准可追溯结合空间图像与光谱特征，可准确锁定瑕疵分布范围与边界，输出可视化检测结果与量化数据，检测过程可复现、结果可追溯，便于质量管控与流程优化。
FigSpec FS-13高光谱相机（线扫描）
l 光谱范围：400-1000nm
l 光谱分辨率：2.5nm
l 光谱波段：1200
l 空间像素数：1920
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